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包层几何参数测试仪（CLA-600）

包层几何参数测试仪（CLA-600）

包层几何参数测试仪(CLA-600)可用于测量各种类型光纤的包层几何参数。其采用独特的明场照明光路获取高对比度的包层截面图像，并配合高速对焦采集系统，可为研发及生产用户进行快速、准确、稳定的几何参数测量。

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光纤激光测试仪器仪表

包层

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几何

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