武汉聚合光子技术有限公司
包层几何参数测试仪（CLA-600）
分类：
包层几何参数测试仪(CLA-600)可用于测量各种类型光纤的包层几何参数。其采用独特的明场照明光路获取高对比度的包层截面图像，并配合高速对焦采集系统，可为研发及生产用户进行快速、准确、稳定的几何参数测量。
产品程序
功能说明
包层几何参数测试仪(CLA-600)可用于测量各种类型光纤的几何参数除常用的包层直径、纤芯直径、同心度、不圆度等参数外，还可根据用户需要提供保偏光纤纤芯、应力区，有源光纤八边形、圆内接八边形等专用几何分析模板。
规格参数
| 参数 | 典型值 | |
| 测试时长 | <15s | |
| 光纤直径* | 80μm-600μm/600μm-1200μm | |
| 重复性** | 芯层直径 | < 0.02um |
| 包层直径 | < 0.01μm | |
| 芯层不圆度 | < 0.5% | |
| 包层不圆度 | < 0.05% | |
| 芯包层同心度 | < 0.01μm | |
| 端面倾斜判断 | <1° | |
| 光纤类型 | 单/多模，大模场面积，掺稀土，包层泵浦，微结构，保偏等光纤 | |
*CLA-600 系列为用户提供了可自行安装的600-1200um量程扩展包。
** 所述重复性为单模 125um 合格样品摆放一次并重复测量五次的标准差。
测试图集
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