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光纤剖面分析仪(RIP-100)


光纤剖面分析仪(RIP-100)可以测试各种类型光纤的折射率分布并给出光纤轴向的三维分布式折射率分布,辅助可以测试各种类型光纤的折射率分布,并给出光纤轴向的三维分布式折射率分布,辅助 NA 计算。此外,RIP-100 也可以测量光纤的几何特征参数、掺稀土光纤的增益剖面。


产品程序

功能说明

光纤剖面分析仪(RIP-100)可用于分析微结构光纤、光纤合束器、高功率有源光纤,研究各类型光纤制备工艺、拉锥工艺、熔接工艺。

规格参数

参数 典型值
折射率精度 ±0.0001
空间分辨率 优于 500nm
测量波长范围 典型值632nm (波长可定制)
光纤直径 40μm-800μm
光纤材料 石英,塑料,其他透明材料
光纤类型 单/多模,大模场面积,掺稀土,包层泵浦,微结构,保偏等光纤
同心度误差 ±200nm
包层不圆度误差 ≤0.5%
纤芯不圆度误差 ≤3%
测量时间 ≤3min (360角度精细测量)
测量方式 全自动化无损测量

测试图集

熔接分析

 

Yb 离子相对浓度

分析模块

折射率剖面

 

折射率剖面

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