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(RIP-200)光纤折射率分析仪


光纤折射率分析仪(RIP-200)整合了全息显微层析和改进的折射近场两种测量方式,可以测试各种类型光纤的折射率分布,并给出光纤横截面的二维折射率分布和轴向的三维分布式折射率分布,辅助NA计算。此外RIP-200也可以测量光纤的几何特征参数。


产品程序

功能说明

光纤折射率分析仪(RIP-200)可用于分析圆形、八边形、双包层、微结构光纤的折射率分布,研究各类型光纤制备工艺、拉锥工艺、熔接工艺。

规格参数

参数 典型值
光纤折射率测量精度 ≤±0.0002
空间精度 ≤1μm
光纤直径 40μm-600μm
光纤材料 包括石英玻璃、非石英玻璃、塑料等;
二维折射率测试时间(基于光纤端面) <20s
360角度精细测量时间 <3min

 

测试图集

熔接分析

折射率剖面

 

 

测试软件界面

分析模块

几何分析模板

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(RIP-200)光纤折射率分析仪


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